【產品名稱】：掃描測頭
【產品規格】：掃描測頭
【詳細內容】
雷尼紹提供各種類型的測頭系統，以更好地滿足具體的應用需求。

掃描測頭
掃描測頭是微型測量儀器，每秒能夠采集幾百個表面點，可以測量形狀、尺寸和位置。掃描測頭也可用于采集離散點，與觸發式測頭類似。

雷尼紹提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標測量機選用。

觸發式測量系統
觸發式測頭測量離散的點，是檢測三維幾何工件的理想選擇。

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統，既可在手動坐標測量機上進行簡單的性能檢測，也可在數控高速機器上進行復雜輪廓測量。

掃描測頭系統

掃描原理
掃描測量提供了一種從規則型面工件或其他復雜工件上高速采集形狀和輪廓數據的方法。

觸發式測頭可采集表面離散點，而掃描系統則可獲取大量的表面數據，提供更詳細的工件形狀信息。因此，在實際應用中如果工件形狀是整個誤差預算的重要考量因素或必須對復雜表面進行檢測，掃描測量可謂理想之選。

掃描需要根本不同的傳感器設計、機器控制和數據分析方法。

雷尼紹掃描測頭獨具特色的輕巧無電源機構（無馬達或鎖定機構），具有高固有頻率，適合高速掃描測量。分離的光學測量系統直接（無需通過測頭機構中的疊加軸）測量測針的偏移量，以獲得更高的精度和更快的動態響應。

掃描系統如何采集并分析表面數據？
掃描測頭提供連續的偏移量輸出，與機器位置相結合，從而獲得表面位置數據。進行掃描測量時，測頭測尖開始與工件接觸，然后沿工件表面移動，采集測量數據。在整個測量過程中，須將測頭測針的偏移量保持在測頭的測量范圍內。

要想取得最佳測量結果，需要傳感器與機器控制緊密集成，以及先進的濾波運算，以將合成數據轉換為可用的表面信息。掃描驅動算法適用于工件輪廓測量，改變掃描速度使之匹配曲率的變化（表面越平，速度越快），然后調整數據采集速率（表面變化越快，采集的數據越多）。